구성원

교원소개

교원소개

Hu Young Jeong정후영

  • TEM
  • 투과전자현미경
  • 원자스케일분석
  • 강유전체메모리

연구주제

이차원 재료 기반 메모리 소자 제작 및 분석, 반도체 소자 계면 고도 분석 및 응용

  • 연구분야2차원 소재기반 멤리스터, 반도체 계면 원자수준 분
  • 연구실반도체 계면 분석 및 응용 연구실

반도체 계면 분석 및 응용 연구실(Semiconductor Interface Analysis and Engineering Lab)

  • 투과전자현미경은 일차원 나노와이어, 이차원 필름, 삼차원 벌크 등 나노스케일 물질들의 결정구조 및 화학적 결합상태를 밝히는데 필수적인 분석방법이다. 반도체 소재 부품 대학원에 속한 우리 그룹은 구면수차가 보정된 최첨단의 투과전자현미경들을 이용하여 다양한 반도체 소재 및 소자들의 기초현상들을 관찰하는 연구를 수행하고 있다.

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