반도체 계면 분석 및 응용 연구실(Semiconductor Interface Analysis and Engineering Lab)
투과전자현미경은 일차원 나노와이어, 이차원 필름, 삼차원 벌크 등 나노스케일 물질들의 결정구조 및 화학적 결합상태를 밝히는데 필수적인 분석방법이다. 반도체 소재 부품 대학원에 속한 우리 그룹은 구면수차가 보정된 최첨단의 투과전자현미경들을 이용하여 다양한 반도체 소재 및 소자들의 기초현상들을 관찰하는 연구를 수행하고 있다.